EDAX是**材料表征系統(tǒng)的**供應(yīng)商，提供能量?jī)x（EDS），電子背散射衍射儀（EBSD），波譜儀（WDS），集成系統(tǒng)（EDS-EBSD，EDS-WDS，和EDS-EBSD-WDS），和微束X射線熒光能譜儀（Micro-XRF）。
EDAX隸屬于美國(guó)AMETEK，50年來(lái)，一直致力于為用戶提供先進(jìn)的技術(shù)、**的性能、可靠的儀器和滿意的售后服務(wù)。
X射線能譜儀(EDS)
TEAM? 掃描電鏡能譜儀
TEAM?掃描電鏡能譜儀配備Octane SDD系列探測(cè)器，適合廣泛的應(yīng)用, 具有許多智能功能，是業(yè)界*直觀易用的分析工具。
TEAM? 掃描電鏡能譜儀（EDS）配備了TEAM? 智能能譜軟件包，是業(yè)界*直觀易用的掃描電鏡分析工具。TEAM? 軟件融合了EDAX 50年的知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)，具有許多智能功能，自動(dòng)化了工作流程，任何任務(wù)只需要3個(gè)點(diǎn)擊即可完成（開(kāi)始、分析和報(bào)告），既適合初學(xué)者又適合有經(jīng)驗(yàn)的用戶。
智能功能和準(zhǔn)確結(jié)果
TEAM? 掃描電鏡能譜儀，適合廣泛的應(yīng)用，可以幫助用戶節(jié)省時(shí)間，獲得準(zhǔn)確可重復(fù)的結(jié)果。無(wú)論是簡(jiǎn)單地采譜或者復(fù)雜的相分析，用戶都可以快速方便地得到想要的結(jié)果。此系統(tǒng)具有許多智能功能：
啟動(dòng)
智能診斷（Smart Diagnostics）的環(huán)境面板實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)狀態(tài)，報(bào)告探測(cè)器、樣品臺(tái)、鏡筒等的運(yùn)行條件，允許**控制。智能采集自動(dòng)化了常規(guī)操作，方便了使用，節(jié)省了時(shí)間。
分析
智能相分布（Smart Phase Mapping）自動(dòng)收集能譜，產(chǎn)生含有元素分布和譜信息的相分布圖，將能譜分析提高到一個(gè)新的層次。點(diǎn)分析和線掃描使用下一代的Expert ID, 可以便捷地采集分析所選區(qū)域中的1點(diǎn)或多點(diǎn)。
報(bào)告
智能數(shù)據(jù)復(fù)查（Smart Data Review）采用**的布局和項(xiàng)目樹(shù)，可方便快速地復(fù)查報(bào)告圖片、面分布圖和譜圖，并在報(bào)告中動(dòng)態(tài)編輯數(shù)據(jù)。
電子背散射衍射儀（EBSD）
TEAM? EBSD - 強(qiáng)大的OIM?與易用的 TEAM?
TEAM? EBSD系統(tǒng)集強(qiáng)大的OIM? 分析功能與直觀易用的TEAM? 界面于一體，為所有的用戶提供業(yè)界*先進(jìn)的晶體結(jié)構(gòu)表征。
使用方便：
3點(diǎn)擊流程
3點(diǎn)擊完成從啟動(dòng)分析到報(bào)告生成
智能功能
自動(dòng)優(yōu)化系統(tǒng)設(shè)置、數(shù)據(jù)采集、分析和報(bào)告生成
靈活控制
**用戶設(shè)置的充分訪問(wèn)和控制
智能功能：
智能相機(jī)（Smart Camera）
自動(dòng)優(yōu)化EBSD相機(jī)設(shè)置
智能背景（Smart Background）
智能背景收集和處理
智能標(biāo)定（Smart Indexing）
**的三條帶組標(biāo)定和置信因子為用戶提供準(zhǔn)確的EBSD結(jié)果
智能數(shù)據(jù)管理
直觀靈活的數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)保持工作有條不紊
動(dòng)態(tài)面分布：
TEAM? MASCOT
使用TEAM? MASCOT工具，交互地選擇EBSD圖像質(zhì)量圖，晶體取向圖、相圖和SEM圖
實(shí)時(shí)性
數(shù)據(jù)采集的同時(shí)，可觀察結(jié)果，從而確保數(shù)據(jù)質(zhì)量，并直接洞察材料
*大洞察力
結(jié)合灰度圖和彩圖，*大化信息量
報(bào)告：
TEAM? 報(bào)告
有效地組織和輸出結(jié)果，輸出格式包括標(biāo)準(zhǔn)Microsoft Office文檔及Adobe PDF文檔
快速報(bào)告
提供EBSD點(diǎn)分析和面分布的數(shù)據(jù)總結(jié)和綜合分析
定制報(bào)告
允許用戶裁剪報(bào)告內(nèi)容及布局，以滿足具體的分析需求
OIM?分析
使用可定制的特定應(yīng)用的模板，直接訪問(wèn)OIM?分析，提供**EBSD報(bào)告
相機(jī)：
TEAM? EBSD兼容市場(chǎng)**的高速高靈敏Hikari XP相機(jī)和高分辨率DigiView相機(jī)。
TEAM? EBSD使結(jié)構(gòu)表征變得比以前更加容易，它將更多的解決方案放在用戶手里，再次證明EDAX是解決材料分析挑戰(zhàn)的答案。
TEAM? 波譜儀（WDS）
TEAM? 波譜儀（WDS）使用平行光波譜儀和TEAM ?軟件。為了補(bǔ)充EDS輕元素分析或者元素重疊峰分離的不足，用戶經(jīng)常會(huì)使用波譜儀（WDS）。 WDS具有更高的分辨率和靈敏度，可以更好地分離重疊峰，揭示微量元素，給用戶提供一個(gè)清晰的化學(xué)成分畫(huà)面。WDS既可用于定性分析也可用于定量分析。
譜儀：TEAM? WDS兼容兩款平行光譜儀；LEXS-低能量譜儀和TEXS HP--全能量段譜儀
● LEXS 使用高收集光學(xué)器件產(chǎn)生平行X射線束，具有**的輕元素性能，工作能量范圍為80eV～2400eV (B Ka ～ S Ka)
● TEXS HP 使用毛細(xì)管光學(xué)器件產(chǎn)生平行X射線束，適合分析低能量段和過(guò)度元素能量段，工作能量范圍為150 eV ～ 10 keV (B Ka ～ Cu Ka)
● LEXS和TEXS HP標(biāo)配五塊衍射晶體，針對(duì)性地解決用戶一系列特定的應(yīng)用需求
● LEXS和TEXS HP設(shè)計(jì)緊湊，可以輕松地裝配在掃描電子顯微鏡（SEM）多數(shù)EDS端口，給用戶更大的配置自由度
TEAM? WDS軟件
TEAM? WDS具有智能聚焦（Smart Focus）功能，一個(gè)全自動(dòng)聚焦例程，**優(yōu)化了WDS分析。智能聚焦功能自動(dòng)優(yōu)化樣品臺(tái)的位置以保證每個(gè)元素獲得*大的X射線強(qiáng)度。它將速度和易用性提高到一個(gè)新的水平，確保**次迭代就可獲得*高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。 用戶只需選擇一個(gè)元素或者一個(gè)能量范圍，點(diǎn)擊鼠標(biāo)三次，就可解決一個(gè)EDS譜峰重疊，無(wú)需擔(dān)心聚焦光束。
應(yīng)用
TEAM? WDS可以**地解決以下問(wèn)題：
● 低電壓顯微分析 – 當(dāng)?shù)陀? keV的X射線數(shù)據(jù)時(shí)，只有WDS的高分辨率才能達(dá)到所需的準(zhǔn)確度，無(wú)論定性分析還是定量分析
● 峰重疊 - 特別是在4 keV和10 keV能量之間，過(guò)渡元素的K線和耐火元素L線顯著重疊
● 痕量分析 - 確定一個(gè)復(fù)雜矩陣中微量元素的含量
EDS-EBSD-WDS 一體化技術(shù) ：
TEAM? Pegasus : 一體化EDS-EBSD
為了**了解一個(gè)材料，無(wú)論是天然的還是人工的，科學(xué)家經(jīng)常需要確定其物理性質(zhì)、化學(xué)成分、晶體結(jié)構(gòu)和形態(tài)之間的關(guān)系。
TEAM? Pegasus可同步收集EDS數(shù)據(jù)（成分）和EBSD數(shù)據(jù)（晶體結(jié)構(gòu)），在材料的元素組成和微結(jié)構(gòu)方面建立直接關(guān)聯(lián)。
微束X射線熒光能譜儀(Micro-XRF)
Orbis微束X射線熒光能譜儀
Orbis可以對(duì)各種類(lèi)型、尺寸的樣品進(jìn)行先進(jìn)的無(wú)損元素分析，不需樣品制備，不需涂層。它可以對(duì)多元素進(jìn)行快速同步的X射線檢測(cè)，含量靈敏度從百萬(wàn)分之幾到100%。用戶可以對(duì)小樣品進(jìn)行元素分析，如顆粒，碎片和夾雜物，也可以對(duì)大樣品進(jìn)行自動(dòng)多點(diǎn)和成像分析。
Orbis是一款臺(tái)式儀器，可以在空氣或低真空條件下，測(cè)量從Na到BK的元素。因?yàn)閄射線具有穿透力和較大的光斑，Orbis比掃描電子顯微鏡更適合分析較大特點(diǎn)的樣品。Orbis Vision 軟件強(qiáng)大易用，可提供**的元素分析。
**的X射線光學(xué)/視頻器件幾何設(shè)計(jì)
Orbis安裝了垂直于樣品的先進(jìn)的X射線光學(xué)器件和高質(zhì)量的視頻像機(jī)，適合更大范圍的樣品形狀。這種**的設(shè)計(jì)提供了真正的“你所看到的就是你所分析的”的能力。由于X射線束的阻擋而導(dǎo)致的錯(cuò)誤測(cè)量，可以很容易地被檢測(cè)到。如果相機(jī)的視野受到阻擋，X射線也會(huì)受到阻擋。當(dāng)測(cè)量有地形的樣品時(shí)，可以消除X射線束的陰影。此外，在儀器設(shè)計(jì)的工作距離外，定性分析更容易。
廣泛的應(yīng)用：
Orbis適合各種應(yīng)用，包括刑事取證、工業(yè)質(zhì)量控制和無(wú)損檢測(cè)，還有材料、電子和地質(zhì)樣品分析。
Orbis 型號(hào)
Orbis有兩個(gè)型號(hào)：Orbis SDD 和 Orbis PC SDD。兩個(gè)型號(hào)都使用Orbis Vision 軟件，都有多個(gè)選項(xiàng)，覆蓋廣泛的需要高精度非破壞性元素分析的應(yīng)用。
